- 试题详情及答案解析
- 某植物的高秆（D）对矮秆（d）显性，抗锈病（T）对易感病（t）显性，两对基因位于两对同源染色体上。下列对DdTt和Ddtt杂交后代的预测中错误的是
A．由于基因突变，后代可出现DDdTt类型
B．由于基因重组，后代可出现矮秆抗锈病类型
C．由于等位基因分离，后代可出现矮秆类型
D．由于自然选择，后代的T基因频率可能上升- 答案：A
- 试题分析：后代可出现DDdTt类型，说明在减数分裂过程中，染色体没有分开，导致生殖细胞中染色体数目增加了一条，所以属于染色体变异，而不是基因突变，故A错；在减数分裂过程中，等位基因分离的同时，非同源染色体上的非等位基因自由组合，所以后代可出现ddTt的矮秆抗锈病类型，故B正确；由于等位基因分离，DdTt和Ddtt杂交后代可出现dd 的个体，表现为矮秆类型，故C正确；在自然条件下，易感病个体容易被淘汰，会使t基因的基因频率下降，导致T基因频率可能上升，故D正确．
考点：本题主要考查生物的变异，意在考查考生能理解所学知识的要点，把握知识间的内在联系，形成知识的网络结构的能力。